一、产品概述

该高精度涂镀层测厚仪FW518是我公司新研制的产品，具有精度高，性能稳定等特点，它能快速，无损伤的进行涂镀层的测试，既可以用于实验室，也可以用于现场测量。外置探头的设置，可以满足多种测量的需要.

该仪器可以广泛应用在制造业，金属加工业，化工业，商检等领域，是材料保护专业的仪器该仪器符合以下标准：

GB/T 4956-1985    JJG889-95

特点：

1 采用磁性测厚方法，可以测量磁性金属基体上非非磁性涂覆层的厚度。

2 有连续测量模式和单次测量模式两种。

2.测量原理

本仪器采用磁性测量的方法，可无损的测量磁性金属基体上非磁性涂覆层的厚度，当测头和涂覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一个闭合磁路，由于涂覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化可以得出涂覆层的厚度.

3.屏幕显示说明

1. 测量数据   2.电量图标   3.测头类型   

4.存储数据    5.测量方式   6. 测量单位

4.技术参数

量程：0~1250微米

工作原理：磁感应

分辨率：0.1微米

误差：±3%+1

小曲率半径凸：5mm

小面积直径：φ3mm

基体临界厚度：0.2mm

温度：-10~40℃

主机尺寸：120*69*30mm

探头直径：10mm

探头线长度：1m

5.仪器的使用方法

1. 准备好测试的工件

2. 将测头正确插入主机并确认插接牢固

3. 按右下键开机

4. 检查电池电量

5. 测量时，迅速将测头与测试面垂直接触并轻压至底，随着一声蜂鸣，屏幕显

示测量值，提起测头10公分以上可以进行下次测量.

6.无任何操作的情况，仪器2分钟左右可以自动关机，按右下键也可以手动关机.

提醒：如果在测量中测头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可以按删除键删除

此数据.

6.校准方法

本系列仪器有三种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。

6.1 零点校准

1．在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。

2．按“零点"键，屏显<0.0>。校准已完成，可以开始测量了。

3．重复上述1、2步骤可获得更为准确的零点，高测量精度。零点校准完成后就

可进行测量了。

6.2 二点校准

6.2.1 一试片法

1．先校零点（如上述6.1）。

2．在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，显示＜×××μm＞。

3．用“+或-"键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。

注意:

1. 即使显示结果与标准片值相符，调整一下数据也是的，即先按一次+

再按一次-，使数据调整一下，这一点适用于所有校准方法。

2. 如想较准确地进行二点校准，可重复1、2过程，以提高校准的精度，减少偶

然误差。

6.2.2 二试片法

两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于高精度测量。

1．先校零值（如上述6.1）。

2．在较薄的标准片上进行一次测量，用 +或- 键修正读数，使其达到标准值。

3．紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用 +或- 键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。

7、标准配置：

1 主机          2 探头            3标准片5片     

4 铁基体        5 五号电池2节    6包装箱   

7说明书         8 合格证保修卡

8、注意事项

1．对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

2．不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

3．不应在试件的弯曲表面上测量。

4．通常由于仪器的每次读数并不相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

5．测量前，应**表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

6.严禁碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等