镀层膜厚检测：进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析：检测电镀液成分及浓度，确保镀层质量
水质在线监测：监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量，已达到排放标准
重金属及槽液杂质检测：检测电镀成品，以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量

1、仪器概述

Think800A金属镀层厚度仪使用而实用的SI-PIN电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

2、性能优势

稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速
手动开关样品腔，操作安方便
三重安保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
Fp软件，无标准样品时亦可测量

3、技术指标

分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素
分析厚度：般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次测量稳定性可达1%.
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
仪器重量：30kg

(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便

专业生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

镀层测厚仪展厅