- XF-A5S贵金属成分无损检测仪是西凡仪器面向贵金属成分无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收等行业和单位。该产品采用目前的进口定制Si-PIN探测器，内置四核CPU工控电脑，采用全新的垂直光路。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比。
贵金属检测仪XF-A5S产品特点
元素检测范围：钾(9)～铀(No.92)
可支持最多30个元素同时计算
分析范围：0.01%～99.99%
检测精度：±0.03%(999金)
检测样品：固体/液体/粉末
定制TCP/IP协议API接口，支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集
支持多点连续测试，测试效率高
内置ARM四核XRF专用电脑+Linux内核，无惧木马和病毒软件
选装10工位转盘，自动连续测试10个样品
贵金属检测仪XF-A5S核心部件
探测器：AMPTEK定制版Si-PIN探测器
内置工控电脑：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF专用电脑
高压电源：50KV/1mA数字高压电源
X射线管：50KV/1mA
窗口材料：玻璃窗
靶材：钨
焦点：ϕ 0.5mm
准直器：ϕ2.5mm
贵金属检测仪XF-A5S核心部件产品规格
输入电压：AC100～240V，50Hz
产品包装尺寸：565mmx535mmx500mm
产品尺寸：450mmx422mmx378mm
样品舱尺寸：366mmx336mmx141mm
额定功率：<150W
毛重：47KG
净重：35KG
噪音：50dB
使用环境：
温度：15℃～31℃
湿度：<70%（不结露）
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