高频介电常数试验仪介质损耗因数测试仪
介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q表又失谐，此时调节平板电容器，使Q表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
- 计算被测样品的介电常数：
Σ＝D2 / D4
附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表 | |||
BH916测试装置 | GDAT高频Q表 | ||
平板电容极片 | Φ50mm/Φ38mm可选 | 频率范围 | 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz |
间距可调范围 | ≥15mm | 频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | 主电容调节范围 | 30-500/18-220pF |
测微杆分辨率 | 0.001mm | 主调电容误差 | <1%或1pF |
夹具损耗角正切值 | ≦4×10-4 （1MHz) | Q测试范围 | 2～1023 |
高频介电常数试验仪介质损耗因数测试仪基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
①直流高压电流输出 10，50，100，500，1000V 五档
②根据试样的电阻值及直流高压值选择合适的量程倍率。
③高输入阻抗直流放大器（输入阻抗>1015Ω）
④指示仪表，指示被测绝缘电阻。
⑤电源供给仪器各部分工作电源。
注 意 事 项
★★★★★★★★★★★★★
仪器使用前请仔细阅读以下内容，否则将造成仪器损坏或电击情况。
1. ★检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。
2. ★接通电源调零，（注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接）在“Rx"两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。然后关机。
3. ★将待测试样平铺在不保护电极然后用保护电极压住样品，再插入被保护电极（不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路）。
4. ★测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边，
5. ★接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档，打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定，那么电压就要升到500V)
6. ★电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨高档，每拨一次停留1-2秒观察显示数字，当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1"，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下，在1min的电化时间后测量电阻，当前的数字乘以档次即是被测电阻。
7. ★测试完毕先将量程拨至（104）档，然后将测量电压拨至10V档，zui后将测试按钮拨到位置后关闭电源。然后进行下一次测试。
8. ★应在“Rx"两端开路时调零，一般一次调零后在测试过程中不需再调零。
9. ★禁止将“RX"两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击。
10. ★不得在测试过程中不要随意改动测量电压。
11. ★测量时从低次档逐渐拨往高次档。
12. ★接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分。
13. ★不得测试过程中不能触摸微电流测试端。
14. ★在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。
15. ★严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。
16. ★严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档，更换试样。
测试过程 | 不正确的操作方式 | 后果 |
开机前 | 没有将电压拨至10V，电阻电流量程档拨至104 | 过电流冲击造成仪器放大器过电流而损坏 |
测试过程 | 随意调节后面板电压量程而改变测试电压 | 过电流或反向放电冲击造成仪器过电流而损坏 |
测试过程 | 改变屏蔽箱上体面电阻，表面电测测试开关 | 过电流或反向放电冲击造成仪器过电流而损坏 |
测试过程 | 测试电压过高，导致测试材料击穿 | 过电流或反向放电冲击造成仪器过电流而损坏或测量性能降低 |
测试过程 | 微电流测量线与高压线短路 | 过电流或反向放电冲击造成仪器过电流而损坏或测量性能降低 |
测试完成 | 未将电压量程拨至10V，电阻电流量程档拨至104进行关机。 | 过电流或反向放电冲击造成仪器过电流而损坏或测量性能降低 |
准确度: 准确度优于下表:
量程 | 有效显示范围 | 20～30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01～19.99 | 1% |
106 | 0.01～19.99 | 1% |
107 | 0.01～19.99 | 1% |
108 | 0.01～19.99 | 1% |
109 | 0.01～19.99 | 1% |
1010 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01～19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01～19.99 | 10-15%+5字 |
( 超出有效显示范围时误差有可能增加)测试电流准确度与电阻相同
主要特点
- 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω；
- 电流测量范围 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；
- 体积小、重量轻、准确度高；
- u 的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便；
- u 性能稳定、读数方便；
- u 既能测电阻又能测电流；
- u 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
- u 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，
- 去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。
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如果使用这种三电极测量材料表面电阻或体积电阻，可以按下图接线：
- 测表面电阻：（电流流过被测量物体表面时测得的电阻）
仪器高压输出（红）接圆环电极
仪器电流输入端（芯线）接圆柱电极
仪器地（黑，屏蔽线）接圆盘电极
- 测体积电阻：（电流流过被测量物体体内时测得的电阻）
仪器高压输出（红）接圆盘电极
仪器电流输入端（芯线）接圆柱电极
仪器地（黑，屏蔽线）接圆环电极
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