Jenoptik德国业纳Hommel粗糙度仪轮廓仪W900测量系统配有快速测量轴，即使遇到复杂的测量任务，也能保证快速的测量速度，因此能满足客户的要求。高精度的驱动箱与 Nanoscan Ⅱ传感器组合，可用于粗糙度和轮廓综合测量，测量精度优异。W900 测量系统在测量粗糙度、半径、角度和直径等方面展现的出色能力让人为之震撼。

Waveline W900RC配有500 mm 立柱，200 mm驱动箱行程、控制盒以及用于固定和定位工件的配件配件

系列的亮点：

1.的测量速度

2.可进行CNC编程，适用于自动化测量方案

3.高度灵活的动态测量

4.与Nanoscan测头配合使用，具有出色的测量精度

5.带光栅尺的立柱分辨率为0.1μm,用于测量探传感器测量范围之外的垂直距离；需要带双头针尖的探头臂

6.两个探头系统连接位置，在驱动箱前部附加一个粗糙度探头系统；也适用于可选的旋转模块

7.附加的电动Y轴或 X-Y轴组合，用于顶点自动搜索搜索形貌测量和工件定位

8.可选的电机倾斜装置，用于 调整倾斜角度，并自动将测针对准工件平面

9.用于圆柱形工件在圆周方向和轴向上粗糙度测量