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BeamAnalyzer

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BeamAnalyzer

l 12 bit A/D

l 同时高分辨率采样所有模式

l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合

l 实时显示光束2D/3D图像

l 测量光束的中心、椭圆度和功率

l Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输

l 可保存快照图像

l 自动验证分析报告

主要参数：

传感器类型		Si UV-Si IR IRE
光谱范围	Si UV-Si IR IRE	350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm
刀片数		3（BA3头） 7（BA7头）
光束尺寸范围	BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV（圆形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5	3µm-5mm 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm
光束宽度分辨率	>100µm <100µm	1µm 0.1µm
光束宽度精确度		±2%
功率范围	Si和UV-Si探头 InGaAs探头	10µW-1W(有衰减片) 10µW-5mW(无衰减片)
功率精确度	Si和UV-Si探头 InGaAs探头	±5% ±10%
功率分辨率		0.1µW
位置精确度		±15µm
位置分辨率		1µm
饱和度	Si和UV-Si探头	0.1W/cm²(无衰减片)，20W/cm²(NG9)
测量速率		5Hz
温度		0℃-35℃
PC接口		USB2.0

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