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产品介绍: 解析度0.001μm 最小测量面积0.1mmφ 可测量合金层之厚度和组成比例 可测量两层以上镀层之个别厚度 籍由光谱分析可判定被测物之元素 适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业 |
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品牌:日本电测产品介绍:中文视窗操作测量系统解析度0
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产品介绍: 解析度0.001μm 最小测量面积0.1mmφ 可测量合金层之厚度和组成比例 可测量两层以上镀层之个别厚度 籍由光谱分析可判定被测物之元素 适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业 |
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