LED高低温冲击试验箱用于测试LED、LED光电、LED照明、LED背光源、LED显示器、LED模组、LED灯条、LED照明、LED发光二极管、LED灯珠、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、电子、电子元器件、电器、电机、电源、电池、电容器、电阻、IC、电感、半导体、电路板、线路板、PCB、PCB板、FPC、FPC印制电路板、电脑、手机、数码产品、通讯设备、运动器材、锁具、建材、陶瓷、印刷、胶粘、粘合剂、油漆、油墨、化工、涂料、塑胶、塑料、橡胶、五金、、航天、航空、汽车配件、船舶。用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
LED高低温冲击试验箱工作示意图:

LED高低温冲击试验箱满足的试验方法:
GB/T2423.1-1989低温试验方法;
GB/T2423.2-1989高温试验方法;
GB/T2423.22-1989温度变化试验;
GJB150.5-86温度冲击试验;
GJB360.7-87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验。
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
GB/T 2423.22-2002温度变化
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
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