电子材料冷热冲击试验箱用于电子，电子材料，电子元器件，电器，电子产品，电子元器件，数码产品，手机，电脑，太阳能组件，光伏组件，光纤，光电，LED，LCD，PCB，FPC，微电子，测试手机连接器，电脑连接器，电源连接器，信号连接器，PCB连接器，FPC连接器，电感器、滤波器、变压器，电机，，航天，航空，汽车灯产品及零部件在瞬间下经温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

可测试的温度条件包括：

电子材料冷热冲击试验箱满足的试验方法：

GB/T2423.1-1989低温试验方法； 

GB/T2423.2-1989高温试验方法； 

GB/T2423.22-1989温度变化试验； 

GJB150.5-86温度冲击试验； 

GJB360.7-87温度冲击试验； 

GJB367.2-87 405温度冲击试验。 

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 

GB/T 2423.22-2002温度变化 

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估