SOC750-MW系列是一款快速、实时的MWIR高光谱成像系统。可以 用于机器视觉、精准农业 、生物医药 、国防安全 、遥感科学等研究工作。
基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范围内以27Cubes/s的速度进行高光谱图像测量，光谱分辨率为48～73nm。所测数据可以由第三方软件读取及分析。
SOC750成像光谱仪包括实时高光谱成像处理器，采用的SOC公司专有的高性能HSAnalysis3软件，软件具有图形用户友好界面。
技术指标
型号 | SOC750-HB | SOC750-HR |
主要特点 | 高亮度 | 高分辨率 |
检测器 | 锑化铟(InSb) | 锑化铟(InSb) |
空间像素 | 256*240 | 512*512 |
光谱范围 | 2-5µm | 2-5µm |
光谱通道 | 42 | 64 |
光谱带宽 | 0.073µm | 0.048µm |
测量速度 | 11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 | 2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 |
FPA阱容 | 20Me‑ | 5Me‑ |
探测器像距 | 30µm | 20µm |
IFOV@50mm | 0.6mr | 0.4mr |
测量温度 | 1250°C | 1100°C |
产地：美国
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