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VEGA物位计产品分类介绍

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具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 品牌:
  • 产品类别:污水泵/杂质泵
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2022-12-03 16:24:08
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上海辰丁自动化设备有限公司

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  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:2091条
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产品简介

VEGA物位计产品分类介绍VEGAGrieshaberKG是从事过程工业测量技术的跨国厂商

详情介绍

VEGA物位计产品分类介绍
VEGA Grieshaber KG 是从事过程工业测量技术的跨国厂商。其产品系列包括测量物位、限位和压力传感器以及用于集成到过程处理系统的仪表和软件。Vega为自己设定了发展和创新的测量技术,易于安装和操作,以提供zui大的安全性和可靠性为目的。VEGA物位计产品分类介绍,生产过程变得越来越复杂,因此,用于测量和监控的测量技术是非常重要的。德国VEGA公司是世界上的物位测量仪表生产厂家。

雷达式物位测量仪表
VEGA物位雷达式PULS61/62/63/65/66系列
液体或固体介质,特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质。

超声波式物位测量仪表
VEGA超声波物位测量SON61/62/63系列
用于测量不同密度及表面特性的液体和固体介质,测量开
口明渠的流量和距离。

导向微波式物位测量仪表
VEGA导向微波式物位测量FLEX61/62/63系列
对所有介质进行位式检测,这些介质必须能减弱或反射微
波。用来监控传送设备运转状况。

振动式物位测量仪表
VEGA振动式固料式测量VIB61/63
VEGA振动式位式测量SWING51/61/63
用于对液体和固体进行位式检测。测量结果不受被测介质
特性的影响,也不受容器内工况条件的影响。

电容式物位测量仪表
VEGA电容物位测量CAL62/63/64/65/66/67
适用于各种介质包括腐蚀性介质及高温、高压的测量环境
VEGA静压式物位及压力测量WEL


VEGA物位产品
雷达式物位测量仪表
VEGA物位雷达式PULS61/62/63/65/66系列
液体或固体介质,特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质


VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体,或用于开口容器或渠道。


VEGA优势
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
测量精度 ±5 mm
发射频率 K-频段


VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器,用于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器,可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。


VEGA优势
- 非接触 式测量,不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段

液体或固体介质,特别适用于高温、高压、真空、粉尘、蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质。
VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体,或用于开口容器或渠道。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
测量精度 ±5 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器,用于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器,可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。
优势
- 非接触是测量,不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段

VEGAPULS 63
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量 (K-频段)
特别适用于测量腐蚀性强的介质,或用于卫生无菌要求高的环境。
优势
- 用于探测的材料只有一种
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 法兰或卫生连接
过程温度 -200…150°C
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段

VEGAPULS 65
配有棒式天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量 (C-频段)
特别适用于小的过程连接,在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液体。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PTFE
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 150°C
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
测量精度 ±10 mm
发射频率 C-频段

VEGAPULS 66
配有喇叭口天线或2”导波管天线的雷达传感器,用于连续物位测量(C-频段)
特别适用于在复杂的过程条件下进行测量。
优势
- 非接触是测量,不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 法兰
过程温度 -40 ... 400°C
过程压力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)
测量精度 ±10 mm
发射频率 C-频段

VEGAPULS 67
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续固料料位测量(K-频段)
特别适用于测量固体料位,料仓高度可达15米。
优势
- 非接触式测量,不受粉尘和风送入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 15 米
过程连接 龙门框或锁紧法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)
测量精度 ±15 mm
发射频率 K-频段

VEGAPULS 68
配有喇叭口天线或抛物线天线的雷达传感器,用于连续测量固体料位 (K-频段)
特别适合测量固体料位,通过万向节可以调整天线方向,以适用于不用形状的料仓,并对准料面。
优势
- 非接触式测量,不受粉尘和风送入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达70 米
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±15 mm
发射频率 K-频段

Vega的员工超过1200人,其中600在黑色森林希尔塔赫总部工作。这50年来,为了测量任务的解决方案正在构思和实现的有:用于化工和制药厂,食品工业,饮用水供应系统,污水处理厂,垃圾填埋场,采矿,发电,石油平台,船舶和飞机。VEGA活跃在80多个国家,其在范围内拥有子公司和分销商网络。公司及其产品在范围内拥有申请和批准的权限。这有利于技术的安全性以及产品和服务的质量。
威斯特(上海)传感器仪表有限公司成立于2006年,经历了多年的磨练,已形成了规范的专业团队,本公司专业提供进口工业自动化设备,自动化控制,传感器,编码器,阀门,泵,过滤器,机器人,液压设备,切削工具,压力开关,点火器,控制器等产品,详情请更多信息:VEGA物位计产品分类介绍

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