KDB-2B金属薄膜方块电阻测试仪
1、概述
本设备专用于测量金属薄膜方块电阻,KDB-2B测试仪严格参照国际标准要求研制,运用了*的半导体薄层测量技术,无需特别制样,可测不规则的金属薄膜。
2、技术参数
(1)测量范围:Ω/m
(2)测量电流分两档:100mA和1000mA
(3)数字表:测量范围,灵敏度1μV
(4) 供电电源:
交流电压:220V±10%
频率:50Hz±5%
消耗功率:≤12W
(5) 外形尺寸:425mm(含前把手)×102mm×362mm(宽×高×深)
(6)仪器重量:
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