ST-21L型方块电阻测试仪
ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国标和美国标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜 等同类物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
特点:
1 | 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗; | ||
2 | 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰; | ||
3 | 采用单个电池供电,带电池欠压指示; | ||
4 | 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g; | ||
5 | 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 | ||
6 | 探头带抗静电模块 |
技术指标:
测量范围 | 按方块电阻量值大小分为二个量程档: 1.方块电阻 ~Ω/□; 2.方块电阻 ~Ω/□; 最小分辨率:Ω/□ |
恒流源 | 测量过程误差:≤±% |
模数转换器 | 量程:0~mv; 分辨率:10μv; 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示; |
测量不确定度 | 在整个量程范围内,测量不确定度≤5% |
四探针探头规格 | 间距:1mm、、;偏差≤2%;游移率≤%;绝缘电阻≥500MΩ |
电源 | 使用一节450mAH的锂电池 |
ST-21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
型号 | 曲率半径 | 压力 | 探针间距 | 探针排列 |
HP-501 | 100g | 直线 | ||
HP-502 | 100g | 直线 | ||
HP-503 | 150g | 1mm | 直线 | |
HP-504 | 100g | 直线 |
ST-21L方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格:
型号 | 曲率半径 | 压力 | 探针间距 | 探针排列 |
SP-601 | 100g | 方形 |
所有评论仅代表网友意见,与本站立场无关。