民用可靠性环境试验国家标准

各试验项目的标准及*大试验能力

1、低气压试验(低气压实验)(*大体积：150立方，12*3.5*3.5m)

GB/T2423.21-91 电工电子产品基本环境试验规程 试验M：低气压试验方法、GJB150.2-86 设备环境试验方法 低气压(高度)试验、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB367A-2001《通信设备通用规范》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法105 低气压试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

2 、高温试验/民用可靠性环境试验国家标准

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》、GJB150.3-86《设备环境试验方法 高温试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB4.2-83《舰船电子设备环境试验 高温试验》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法108高温寿命试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GJB367A-2001《通信设备通用规范》4.7.28 高温试验、GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》、GB/T2423.2-2001《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温》、SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.1 高温负荷试验、SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.2 高温贮存试验、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

3、 湿热试验

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》、GJB150.9-86《设备环境试验方法 湿热试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB4.5-83《舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验》、GJB4.6-83《舰船电子设备环境试验 交变湿热试验》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法103稳态湿热试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法106耐湿试验、GJB367A-2001《通信设备通用规范》4.7.29 湿热、GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》、GB/T2423.3-2006《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验》、GB/T2423.4-93《电工电子产品基本环境试验规程 试验Db：交变湿热试验方法》、GB/T2423.9-2001电工电子产品环境试验 试验Cb：设备用恒定湿热、GB/T2423.34-2005《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验》、SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.3 恒定湿热试验、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

4、冲击试验(*大加速度：30000g)

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》、GJB150.18-86《设备环境试验方法 冲击试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB4.8-83《舰船电子设备环境试验 颠震试验》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法213冲击(规定脉冲)试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GJB367A-2001《通信设备通用规范》4.7.39 冲击和4.7.42 颠震、GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》、GB/T2423.5-1995《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击》、GB/T2423.6-1995《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Eb和导则：碰撞》、SJ/T 10325-92 《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.2 碰撞试验、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

5、 跌落试验：SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.3 自由跌落试验GB/T2423.8-1995《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ed：自由跌落》方法一：自由跌落

6、 振动试验(*大推力：30t;*大承载：20t)

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》、GJB150.16-86《设备环境试验方法 振动试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法214随机振动试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GJB367A-2001《通信设备通用规范》4.7.38 振动、GJB4.7-83《舰船电子设备环境试验 振动试验》、GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》、GB/T2423.10-1995《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动(正弦)》、GB/T2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法：试验Fd：宽频带随机振动—-一般要求、GB/T2423.12-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fda：宽频带随机振动-- 高再现性、GB/T2423.13-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fdb：宽频带随机振动-- 中再现性、GB/T2423.14-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fdc：宽频带随机振动-- 低再现性、SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.1 扫频振动(正弦)试验、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

7、 温度冲击

GJB150.5-86《设备环境试验方法温度冲击试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GB/T2423.22-2002《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

8、 温度变化

SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.6 温度变化试验、GB/T2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GJB150.5-86设备环境试验方法 温度冲击试验、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法方法107 温度冲击试验、GJB1032-90 电子产品环境应力筛选方法、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

9、 盐雾试验(*大2立方)

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》、GJB150.11-86《设备环境试验方法 盐雾试验》、MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》、GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》、GJB4.11-83《舰船电子设备环境试验 盐雾试验》、GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》、MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》、GB/T2423.17-93《电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka：盐雾试验方法》、GB/T2423.18-2000《电工电子产品环境试验 第2部分：试验 试验Kb：盐雾，交变(氯化钠溶液)、GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法101 盐雾试验、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法

10、温度/振动综合试验

GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法、GB/T 2423.36-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法

11、温度/低气压(高度)综合试验(*大体积：26立方，2850×2190×4000)

GB/T2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验 试验Z/AM：低温/低气压综合试验、GB/T2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验 试验Z/BM：高温/低气压综合试验、GJB150.6-86设备环境试验方法 温度-高度试验

12、低温/低气压(*大体积：26立方，2850×2190×4000)

GB/T2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验 试验Z/AM：低温/低气压综合试验

13、高温高气压(*大体积：26立方，2850×2190×4000)

GB/T2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验 试验Z/BM：高温/低气压综合试验

14、可靠性试验

GJB899-90《可靠性鉴定和验收试验》、MIL-STD-781D-86《电子装备可靠性鉴定试验实施方法》、GB/T 12165-1998《盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法》、GJB 1407-92 可靠性增长试验、GB 5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均时间的验证试验方案

15、 环境应力筛选

GJB899-90《可靠性鉴定和验收试验》、MIL-STD-2164-85《电子装备可靠性鉴定试验实施方法》、GB/T 12165-1998《盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法》

16、防尘防水(外壳防护等级、IP等级、IP代码、IP防护等级)

GB4208-93《外壳防护等级(IP标志)》、IEC 529-1989《外壳防护等级(IP标志)》

17、砂尘试验(沙尘施压)(*大尺寸：)

GB/T 2423、MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》、GB4208-93《外壳防护等级(IP标志)》、IEC 529-1989《外壳防护等级(IP标志)》、RTCA/DO-160E 机载设备环境条件和试验方法