随着现代制造工业的发展，以及影像测量仪技术的日新月异，市场对这类检测设备提出了新的要求.由过去一度的要求高精度，高速度，高稳定性，逐渐转向多种感方式，集成化控制系统的发展方向，高精度和高速度的发展不仅需要有更高检测精度和速度的检测部件，对核心处理芯片也是新的挑战。只有核心运算部件拥有的更快的运算速度以减少诸如插补运算等各类控制算法的时间，才能使系统得到更高的跟随控制性能和响应特性。由于功能日渐强大，影像测量仪的各种功能板片以及连线也越来越多，这对于系统的安装和维护都带来了巨大的挑战。集成化无疑是解决这个问题的良途径。集成化是电子工业发展的大趋势，测量设略去驱动控制系统也迅速朝着集成化的方向发展。相信不久的将来，影像测量仪将会拥有更为简洁，高度集成化而又具有强大功能的驱动控制系统。

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