WIWAM植物表型成像系统由比利时SMO公司与GHent大学VIB研究所研制生产，整合了LED植物只能培养、自动化控制系统、叶绿素荧光成像测量分析、植物热成像分析、植物近红外成像分析、植物高光谱分析、植物多光谱分析、植物CT断层扫描分析、自动条码识别管理、RGB真3D成像等多项*技术，以优化的方式实现大量植物样品以优化的方式实现大量植物样品——从拟南芥、水稻、玉米到各种其它植物的生理生态与形态结构成像分析，用于高通量植物表型成像分析测量、植物胁迫响应成像分析测量、植物生长分析测量、生态毒理学研究、性状识别及植物生理生态分析研究等。

植物表型分析技术是筛选优良作物品种方法中，研究植物基因功能和环境效应的关键步骤，不仅适于研究外观物理特性，还可以研究植物生长发育过程中基因型与环境因素相互作用所产生的，生理生化特性以及植物基因型与表型映射关系，已受到科研工作者的广泛关注。

高通量植物表型分析技术通过整合传感器、自动控制、环境调控以及数据挖掘等多种*技术，有效地解决传统植物表型分析技术中存在的费时费力、精度低、适用性弱等问题，为阐明不同环境因子及基因型对植物生长、产量、质量、生理状态的影响及研究植物不同表型间的关系提供了有效的帮助。其中，光学技术以其非接触性、快速、无损伤、高灵敏度、高分辨率等优势为高通量植物表型分析提供了技术支撑。光学成像技术主要包括RGB成像、多光谱/高光谱成像、叶绿素荧光成像和热红外成像等，这些技术在获取植物的叶/冠层形态生长模型、逆境响应、养分生理、光合作用、冠层温度等信息上具有很大的优势。其中，叶绿素荧光技术可以通过对叶绿素荧光的探测分析PSII内的生理反应过程，如光化学反应、热散失等，能反映实际生物学意义，该技术已应用于植物的逆境生理检测、病虫害检测、光合作用机理及抗逆性生理等研究。

激光3D扫描成像能够耐受全日照辐射而不影响测量，在高精度测量三维点云信息的同时，测量400-900 nm范围内4 个波段的多光谱成像，使得我们可以得到植物在X、Y和Z轴上所有坐标点的多光谱信息，通过点云的空间深度信息和角度信息，可以对光谱信息进行有效的校准，从而获得较加有效的数据。

激光3D扫描多光谱成像技术参数

形态参数：10

光谱灵敏度：380-900nm

光谱带：多达7个

温度控制：激光、LED和相机温度控制

重量：5.3kg 

尺寸：440×210×99mm 

输入/输出：数字信号外部触发器，RS232/RS485*，7通道闪光TTL输出

测量速率：50 XZ-profiles / s

温度范围：-10-50℃

湿度：0-99%相对

激光等级：1M 

电源要求：24伏直流电，10—36V直流电

耗电量：50W

保护等级：IP65

连接：WIFI，以太网 

Y分辨率(Vscan = 50mm/s) ：1mm

分辨率(Z-range20cm）：X：0.19mm，Z：＜0.1mm

分辨率(Z-range120cm）：X：0.7mm，Z：0.2mm

分辨率(Z-range180cm）：X：1.5mm，Z：0.5mm