托普云农科技提供的植物冠层图像分析仪是用于测定植物冠层参数的专用仪器，可无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构，仪器探头体积小，装在测杠上可以任意角度的测量植物冠层结构，配置的摄像头则带有自动保持水平功能，保障各参数分析的准确性。利用摄像头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件即可获得所需的冠层参数数值，大大简化了传统测量方法的繁复过程。

    植物冠层图像分析仪采用冠层孔隙率与冠层结构相关的原理，它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。
    植物冠层图像分析仪由语言图像捕捉探头、内置微型笔记本计算机、图像分析软件和高容量的可充电电池组成、语言探头安装在一个很轻的手柄的顶端，它可以获取150°视角的图像，图像的显示和存储由配置的计算机完成。在阴天或光照度不强的早晨与黄昏，    将摄像头放在需要测量的植物冠层下方，打开冠层自动采集软件，选择连接，用户可以在计算机屏上看到清晰的动态图像，然后选择串口（一般为COM3），在选择实时显示便会显示实时光合有效辐射强度值，选择获取方式便可获取冠层图像和相关的参数值，图像格式为标准的位图图像，图像和光合有效辐射强度保存于计算机的D盘中，打开冠层分析软件，选择需要打开的冠层图像，点击测量按钮，调节适当的阈值可以计算出植物冠层的叶面积指数、叶片平均倾斜角度、散射辐射透过率、直接辐射透过率以及冠层结构等参数，计算结果将直接显示在计算机屏幕上，也可方便地将它以文本文件的形式保存在计算机中，将PAR探头放在植物冠层内外的不同位置，可以测出各个位置的PAR值。