静电放电抗干扰度试验时金属外壳接触不佳于系统复位
2025年09月07日 09:37:54
来源：东莞市众升仪器有限公司 >> 进入该公司展台
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静电放电抗干扰度试验时金属外壳接触不佳于系统复位
现象描述
实验中有时会遇到这样的情况：在对某产品进行静电放电抗扰度试验时，当对某借口PCB（纯模拟电路）中的DB连接器外壳进行静电放电（-4KV接触放电）时，与该PCB相连（通过母板）的PCB出现复位现象，后检查该板的DB连接器，发现DB连接器的外壳没有与金属面板形成良好的连接，用导电胶将DB连接器外壳与金属面板连接后，再进行测试（-6KV接触放电），工作一切正常
处理措施
为了保证DB连接器与金属面板良好的电气连接，将DB连接器通过螺钉固定在金属面板上面，使DB连接与金属面板紧密连接，使DB连接器外壳与DB连接器外壳与该板金属面板两者之间具有良好的电连续性，这样不仅能提高整机的屏蔽效能，还能使静电骚扰电流通过金属面板及机框很快的泻放掉，使静电电荷不会在DB连接器外壳上累积，静电电压更准确，实验结果也就更具说明性，问题也就随之得到解决了。
总结：由上述可以知道，为什么静电放电测试时对接地要求特别严格，因为接地不好，相对的静电电压就不准，测试结果自然也就不准确了。所以在此提醒众多静电放电实验者，在静电放电实验前，一定要再次确认接地是否良好。
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