我们都知道平板探测器是DRX光机的部件设备，但是现在越来越多的工业域也在使用平板探测器进行工业的无损探伤检测，配合工业x光机使用。

　　平板探测器数字成像是后期发展起来的新型射线无损检测技术，作为目前的数字化成像技术，FPD有许多点，例如无边缘几何畸变、存储方便可靠，量子检测效率高、系统噪声小、灵敏度和分辨率高、 动态范围及成像面积较大、有可编程控制特性、应用灵活和实时成像等. 它是目前可以取代传统胶片照相的技术，近年来逐步在工业无损探伤域中得到应用。

　　随着平板探测器制造技术的不断成熟和发展，平板探测器数字成像检测技术在工业无损探伤域中得到了越来越多的应用，同时各种标准正在逐步完善之中，因平板探测器自身的复杂性，很多因素将导致图像质量下降，在X射线数字成像系统中，引起图像质量下降的主要因素是几何因素和探测器的噪声。

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