广告招募

当前位置:中美贸易网 > 技术中心 > 所有分类

X光机探伤时为缺陷定位仪器时间扫描线的调整有哪几种方法?

2025年10月13日 09:19:07      来源:山东华锐影像设备有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:6

分享:

X光机探伤时,为缺陷定位仪器时间扫描线的调整主要有以下几种方法:

  1. 水平定位:这种方法基于X射线在水平方向上的传播和衰减特性,通过调整扫描线的水平位置来定位缺陷。
  2. 垂直定位(也叫深度定位):它利用X射线在垂直方向上的穿透能力,通过调整扫描线的垂直位置来确定缺陷的深度。
  3. 声程定位:这种方法结合了声波和X射线的特性,通过测量声波在缺陷处的反射和传播时间,结合X射线的成像信息,实现对缺陷的准确定位。

这些定位方法各有特点,可以根据具体的探伤需求和条件选择合适的方法进行缺陷定位。请注意,无论使用哪种方法,都需要严格遵循操作规程和安全标准,确保探伤工作的准确性和安全性。

版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:中美贸易网"的所有作品,版权均属于中美贸易网,转载请必须注明中美贸易网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。