根据《纳米快报》(Nano Letters)，《纳米技术》(Nanotechnology)，《IEEE 纳米技术汇刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology)，《材料》(Advanced Materials)，《自然》(Nature)，《应用物理快报》(Applied Physics Letters)相关文献资料，以及纳米工程功能材料研究中心(FENA)，西部纳米电子研究所 (WIN)，加州纳米系统研究院的研究成果案例，上海坚融JETYOO联合美国吉时利KEITHLEY，开发了脉冲特性分析降低纳米线、纳米管、纳米材料和纳米电子的焦耳热效应的具体测量应用。

可以使您的产品：
脉冲测试zui小化焦耳热效应；
符合IEEE P1650-2005 标准：“测量碳纳米管电气特性的 IEEE 标准测试方法”。
高速和简洁的测试方案能让生物学家、化学家、物理学家或其他研究人员简便地进行复杂测量。

使用到的仪器设备有：
4200-SCS半导体特性分析系统

数字源表
2420 型 3A 源表
2430 型脉冲源表
2601 型高吞吐量源表
2636 型双通道低电流和脉冲输出源表
6430亚fA程控源表

电流源/纳伏表
6220直流电流源
6221交流和直流电流源
2182A纳伏表

静电计/皮安表
6514静电计
6517A静电计/高阻表
6485皮安表
6487皮安表/电压源

脉冲发生器
3401单通道脉冲/码型发生器
3402双通道脉冲/码型发生器