梅特勒天平作为实验室常用基础仪器，其作用主要是称量物体质量，想要实验结果更加准确可靠，实验中样品的量必须准确。为了保证实验结果的准确性，必须保证梅特勒电子天平测量的准确度，在使用前或测量环境改变后都要进行校准操作。下面，我们就来看看梅特勒电子天平如何校准。

梅特勒电子天平有内校和外校两种校准方式。

1. 内校：内校型梅特勒天平使用方便，但价格稍高。校准时只需长按CAL键就可以完成校准过程。内校型电子天平如梅特勒型分析天平（AB-S/FACT系列），如图1.

特勒型分析天平（AB-S/FACT系列）
2. 外校：外校型梅特勒天平对砝码要求较高，砝码有灰尘、磨损时都会对校准结果产生影响。校准时先按CAL键，直到显示屏上显示CAL-,再把标准砝码放入天平秤盘上，完成校准过程。例如，显示屏出现CAL-100时，把 100g标准砝码放入称盘，随后显示屏出现“----”等待状态，当显示屏出现100.000g时，取走标准砝码，此时显示屏应显示0.000g,若读数 不为零，则清零后再次进行校准操作以完成校准过程。外校型梅特勒天平如梅特勒XP超越系列分析天平，如图2.

梅特勒XP超越系列分析天平
需要注意的是，梅特勒电子天平的准确度和内校、外校没有直接的关系，还应综合考虑其它技术指标来选购合适的梅特勒电子天平。