2026年01月30日 09:40:07 来源：上海隐智科学仪器有限公司 >> 进入该公司展台 阅读量：17
X 射线荧光分析仪（XRF）是基于荧光 X 射线发射原理的元素分析仪器，广泛应用于地质、冶金、环保等领域的元素定性与定量检测。其核心原理是利用高能 X 射线激发样品原子，使原子内壳层电子跃迁，外层电子填充空位时释放特征荧光 X 射线，通过检测荧光的能量和强度实现元素识别与含量计算。
激发过程：入射 X 射线（初级 X 射线）能量需大于样品原子内壳层（如 K、L 层）电子的结合能，才能将电子击出形成空穴。例如，K 层电子被击出后，L 层电子会跃迁至 K 层，释放的能量以荧光 X 射线形式辐射。
荧光特性：荧光 X 射线的能量具有元素性，满足公式 /( E = h/nu = /frac /)（/( h /) 为普朗克常数，/( /nu /) 为频率，/( c /) 为光速，/( /lambda /) 为波长），通过检测能量或波长可定性判断元素种类；荧光强度与元素含量正相关，是定量分析的基础。二、核心公式
莫塞莱定律（定性核心）：描述元素原子序数（/( Z /)）与荧光 X 射线波长（/( /lambda /)）的关系，公式为：/( /sqrt} = K(Z - /sigma) /)
定量分析公式：荧光强度（/( I /)）与元素含量（/( w /)）的线性关系为：/( I = k /cdot w /cdot /frac /)
