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ESD-静电对IC等元器件的影响

2026年02月20日 08:19:54      来源:东莞市铭一电子科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:10

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 元件充电模型是指IC本身先因摩擦或其它因素而在IC内部累积了静电,但在静电累积的过程中IC并未损伤。在处理此IC的过程中,IC的pin脚触碰到了地,IC内部的静电便经由IC内部的pin脚流出来,而造成了放电现象。造成短路不良。

此种模式的放电时间更短,仅约为几ns,而且放电现象更难以被真实的模拟。因为IC内部积累的静电会因IC内部的等效电容的不同而改变


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