涂层测厚仪和膜厚仪之间有什么区别

涂层测厚仪和膜厚仪之间有什么区别？膜厚仪和涂层测厚仪是同一种产品，叫法不一样，就好像光泽仪大家会叫光泽度仪，光泽度计，光泽测试仪。

仪器一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
仪器一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，兰泰仪器涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。

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