目前，国内比较常用的两种非接触测量方法，一种是基于CCD器件接收光信号的测量方法，另一种是激光扫描测量方法。两种方法各有各的优势以及劣势，下面让我们来看看他们的基本工作原理。
测量原理：CCD尺寸测量
CCD尺寸测量系统基本都由CCD像传感器、光学系统、微机数据采集和处理系统组成，我们先来看一下采用CCD测激光测径仪测量的基本原理：
线阵CCD平行光法进行非接触测量的基本原理：将线阵CCD置于平行光路，被测物放于CCD前方光路中，射向CCD的光就被物体挡住一部分，因此CCD输出的信号就有一个凹口。显然，凹口的宽度与物体的尺寸有一一对应的关系，我们利用数字电路设计和计算机处理就很容易的得到凹口对应的CCD像元数，从而计算出被测物体的尺寸。但是我们也很容易的发现一个问题：这种测量方法要求CCD光敏区的长度大于被测物体的尺寸，而大尺寸的CCD特别昂贵，所以必须通过其他方法来实现光的接收。
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