荧光测厚仪
荧光测厚仪结合了X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求.
荧光测厚仪的特征:
1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
如X-Strata980X荧光镀层测厚仪就能很好的体现该特征
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
100瓦X射线管
25mm2PIN 探测器
多准直器配置
扫描分析及元素分布成像功能
灵活运用多种分析模型
清晰显示样品合格/不合格
超大样品舱
同时分析元素含量和镀层厚度
